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FIB-SEM测试：材料表征分析“神助攻”-博仕检测:sem
双束聚焦离子束（FIB-SEM）技术作为一种超精细的样品制备手段，能够加工金属、合金、陶瓷等多种材料，制备出宽度为10~20μm、高度为10~15μm、厚度为100~150nm的薄片sem。这使得F
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FIB-SEM技术在锂离子电池的应用:sem
锂离子电池材料的构成锂离子电池作为现代能源存储领域的重要组成部分，其性能的提升依赖于对电池材料的深入研究sem。锂离子电池通常由正极、负极、电解质、隔膜和封装材料等部分构成。正极材料和负极材料的微
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FIB-SEM技术全解析：原理与应用指南:sem
聚焦离子束扫描电子显微镜（FIB-SEM）双束系统是一种集成了聚焦离子束（FIB）和扫描电子显微镜（SEM）功能的高科技分析仪器sem。它通过结合气体沉积装置、纳米操纵仪、多种探测器和可控样品台等附
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FIB-SEM 双束技术简介及其部分应用介绍:sem
摘要结合聚焦离子束（FIB）技术和扫描电子显微镜（SEM）的FIB-SEM双束系统，通过整合气体注入系统、纳米操控器、多种探测器以及可控样品台等附件，已发展成为一个能够进行微观区域成像、加工、分析和
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FIB-SEM方法分析BlackPad的优缺点:sem
BlackPad简介目前以ENIG为表面处理方式所占比例较大，ENIG金属Ni层以NiP成分为主，在生产中易发生镍腐蚀（后面称blackpad）sem。退金后的Blackpad通常表现为晶格线间
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Dual Beam FIB-SEM技术:sem
DualBeamFIB-SEM技术在现代材料科学的探索中，微观世界的洞察力是推动技术进步的关键sem。随着科技的不断进步，分析仪器也在不断升级，以满足日益复杂的研究需求。其中，DualBea
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FEI 申请使用不对称探针去卷积的 FIB 和 SEM 分辨率增强专利，提高图像分辨率:sem
金融界2025年1月24日消息，国家知识产权局信息显示，FEI申请一项名为“使用不对称探针去卷积的FIB和SEM分辨率增强”的专利，公开号CN119338682A，申请日期
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