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FIB-SEM测试：材料表征分析“神助攻”-博仕检测:sem
双束聚焦离子束（FIB-SEM）技术作为一种超精细的样品制备手段，能够加工金属、合金、陶瓷等多种材料，制备出宽度为10~20μm、高度为10~15μm、厚度为100~150nm的薄片sem。这使得F
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双束聚焦离子束（FIB-SEM）技术作为一种超精细的样品制备手段，能够加工金属、合金、陶瓷等多种材料，制备出宽度为10~20μm、高度为10~15μm、厚度为100~150nm的薄片sem。这使得F